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薄膜厚度檢測儀
簡要描述：

薄膜厚度檢測儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)！

  • 產(chǎn)品型號：
  • 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • 更新時間：2024-11-04
  • 訪  問  量：1141
產(chǎn)品分類PRODUCT

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詳細介紹

品牌SYSTESTER/思克應用領域印刷包裝

薄膜厚度檢測儀

薄膜厚度檢測儀

薄膜厚度檢測儀

適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。

主要特點

接觸式測量原理

測厚傳感器

觸摸屏操作

扁平化人機交互界面顯示

真彩色液晶顯示試驗數(shù)據(jù)、結(jié)果

手動、循環(huán)、預約定時多種測量模式

測試過程全自動完成

內(nèi)嵌zui大值、值、平均值、標準差數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析功能

本機內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)查詢功能

配置微型打印機，可自動打印單次、統(tǒng)計報告

配置標準通信接口

可支持DSM實驗室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，實現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理（選購）

技術(shù)指標

測量范圍：0～2mm（標配）0～10mm（可選）

分 辨 率：0.1μm

測量速度：1~25次/min（可調(diào)）

測量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標配）

紙張：200mm2，50±1kPa（可選）

執(zhí)行標準

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

薄膜厚度檢測儀

產(chǎn)品配置

主機、薄膜測量頭、微型打印機、標準量塊一件

注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)！



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